Китайские исследователи представили новую технологию, которая позволяет выявить источник производственных дефектов в процессе изготовления микрочипов. Согласно исследованию, этот метод способен сократить количество ошибок на целых 99%, что знаменует собой значительный прорыв для отечественного производства полупроводников.
ЭТО ИНТЕРЕСНО
FT рассказала, кто получил проданную США венесуэльскую нефть
Первую нефть из Венесуэлы купила компания спонсора Трампа Vitol ...
Война забирает лучших: в госпитале после тяжелого ранения на фронте умер ветеран АТО Виталий...
В больнице имени Мечникова после тяжелого ранения на фронте умер ветеран АТО, член исполнительного комитета Фастовской громады от партии "Европейская Солидарность" Виталий Кайстрюков. 8...
Украину снова накроет снег: синоптик ответила, будут ли сильные морозы
В Украине еще пару дней продержится морозная погода, после чего придет потепление. Но перед этим зима еще посыплет снегом и задует порывистыми ветрами.Видео дняОб...
Российская «дочка» Google подала иск к кипрской компании на ₽1,2 млрд
Российская «дочка» Google подала иск в Арбитражный суд Москвы к кипрской Olbery Ventures Limited на 1,23 млрд руб. Компания владеет рекламным агентством «Алгоритм трейдинг»,...
