Китайские исследователи представили новую технологию, которая позволяет выявить источник производственных дефектов в процессе изготовления микрочипов. Согласно исследованию, этот метод способен сократить количество ошибок на целых 99%, что знаменует собой значительный прорыв для отечественного производства полупроводников.
ЭТО ИНТЕРЕСНО
Минфин предложил ввести пошлины на экспорт алмазов
Минфин намерен поддержать российскую гранильную отрасль и готовит проект указа, о вводе пошлин на экспорт сырых необработанных алмазов. Предполагается контроль за распределением этих камней...
Росстат объяснил, почему поездки в ОАЭ включили в расчет инфляции
Поездки в ОАЭ внесли в расчет недельной инфляции, исходя из анализа потребительского рынка и покупательского спроса, сообщили в Росстате. Там пояснили, что пересмотр позволяет...
