Китайские ученые нашли способ сократить дефекты микрочипов на 99%

0
64

Китайские исследователи представили новую технологию, которая позволяет выявить источник производственных дефектов в процессе изготовления микрочипов. Согласно исследованию, этот метод способен сократить количество ошибок на целых 99%, что знаменует собой значительный прорыв для отечественного производства полупроводников.

ЧИТАТЬ ТАКЖЕ:  Ядерный синтез: "энергетическая утопия" запоздала, чтобы "спасти" нас, говорят некоторые исследователи