Китайские ученые нашли способ сократить дефекты микрочипов на 99%

0
5

Китайские исследователи представили новую технологию, которая позволяет выявить источник производственных дефектов в процессе изготовления микрочипов. Согласно исследованию, этот метод способен сократить количество ошибок на целых 99%, что знаменует собой значительный прорыв для отечественного производства полупроводников.

ЧИТАТЬ ТАКЖЕ:  Объединение квантовых вычислений и теории узлов может привести к созданию неподделываемой валюты

ЭТО МОЖЕТ БЫТЬ ИНТЕРЕСНОЕЩЕ ОТ АВТОРА